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硅片親水性測量儀的儀器$n本公司儀器采用現(xiàn)代化工藝制造，儀器采用高速CCD數(shù)字攝像機，配倍高分辨率變焦式顯微鏡和高亮度LED背景光源系統(tǒng)，搭配三維樣品臺，可進行工作臺上下、左右、前后等方向移動。實現(xiàn)微量進樣及上下、左右精密移動。同時還設計了伸縮桿結構工作臺，能適應在不同用戶材料厚度加大的場合。儀器框架可以根據(jù)式樣的大小適量調節(jié)，擴大了儀器的使用范圍。

光學透過率LS108H光學透過率測量儀是一款臺式光學透過率儀，主要用于有機材料、玻璃、PC材料透光率測試,測試孔徑3mm，適合小尺寸材料的透光率、紅外線和紫外線透過率測量，平面臺式設計，方便放置測試樣品,即放即測，測試快速數(shù)據(jù)精準。

透過率測試儀TMS是一套全波長的0度角透過率檢測儀，能快速準確地測量各類平面光學元件的透光率，可用于實時在線檢測，實現(xiàn)產品全檢。適用于棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學元件的檢測。

全波長透過率譜分析儀Sphere3000是一套全波長顯微球面光學元件光譜分析儀，能快速準確地測量各類球面/非球面器件的相對/反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量。還可進行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。

光學鍍膜橢偏儀ME-L 是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了頤光科研團隊在橢偏技術多年的投入，其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術，包括消色差補償器、雙旋轉補償器同步控制、穆勒矩陣數(shù)據(jù)分析等?？蓱糜诟鞣N各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學納米光柵常數(shù)以及一維/二維納米光柵材料結構的表征分析。

可同時進行 SCI 和 SCE 測量，并通過液晶面板顯示 SCI /SCE 數(shù)據(jù)；

技術參數(shù)符合 GB2410-2008 ASTM D1003-61（1997） JIS K7105-81 等測試標準

激光干涉儀手機面板攝像孔透射波前檢測